JIS K 0102(工場排水試験方法)の改正
JIS K 0102(工場排水試験方法)が、平成20年3月20日付けで改正されました。この改正を受け、同4月1日に水質汚濁防止法におけるほう素、ふっ素、及び浮遊物質量の分析方法が改正、同5月9日には環境基本法(土壌の汚染に係る環境基準について(環境庁告示第46号))におけるセレン、ふっ素、ほう素の分析方法が改正、同じく同5月9日に土壌対策基本法におけるセレン、ひ素、ふっ素、ほう素の分析方法の改正となっております。今回は、環境関連の多くの公定法に採用されているJIS K 0102の改正の内容についてご紹介します。
【主な改正内容】
(1)ICP質量分析法(高周波プラズマ質量分析法)における対象項目の追加
(2)イオンクロマトグラフ法の対象項目の追加
(3) ICP発光分光分析法(誘導結合プラズマ発光分光分析法)における同時定量を主文に変更 (4) 水素化物発生原子吸光法における連続式水素化物発生法を中心にした操作の変更 資料: 環境と測定技術 Vol.35 No.10 2008
今回の改正は、平成10年以降、水質試験方法のISO翻訳規格として80規格(JIS K 0400シリーズ)が制定されてきましたが、これらの試験方法の原理は、JIS K 0102の当該試験項目の原理と同じものが殆どであるため、両者の整合が望まれてきました。これを受け、「用水・排水試験方法の国際規格との一体化に関する標準化調査委員会(委員長 並木博 横浜国立大学名誉教授)」において調査・検討を行った結果、今回の大幅な改正となりました。
上記内容に関するご意見、ご質問等がございましたら、営業担当者までお問い合わせください。
by K.N |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|